业界新闻 > FpVTE2003比赛NEC公司获得第一名

美国标准技术研究院(NIST)受美国国土安全部委托,举行了“现场指纹比对技术评比测试”。在此次测试中,NEC公司的指纹比对技术获得了第一名。

在全世界主要指纹比对技术厂商参加的此次测试中,NEC公司以明显优势获得第一名,NEC公司识别率为97.2%,第二名87.8%,第三名80%,显示了NEC公司在指纹比对技术方面的优势。NEC公司如此高的识别率,是在加强低确信度特征点适应控制技术、领域特性比对技术的基础上,整合了最新开发的遗留指纹减噪技术、隆线识别技术等最先进的指纹图像处理技术之后实现的。

现场指纹是指犯罪现场遗留下的指纹(接触物体后留下的指纹痕迹),“现场指纹比对技术评比测试”,需要将835个现场指纹图像与事先登记的1万人的指纹图像(10万根手指)进行比对,根据识别率来进行评比。

现场指纹大部分为破损或重叠指纹。如果无法获得完整的信息,就需要指纹鉴定专家手工添加比对时所需的指纹特征信息。这种人工作业耗费大量的时间与精力,成为破案的障碍。为了能够更迅速地展开搜查和破案,业内对全自动比对的需求日益高涨。

此次现场指纹比对技术评比测试,主要目的之一是为了验证现场指纹比对处理全自动化的可能性。此次测试数据是从FBI等部门实际存档在系统中的现场指纹中随机抽样取出的。NEC公司所实现的97%的高识别率,大大开拓了现场指纹全自动比对技术的领域,获得了很高的评价。

针对恶性、大范围、多样型犯罪,“现场指纹比对技术评比测试”主要以积极促进现场指纹自动处理技术的研发和早日应用为目的。此次测试得到了美国国土安全部、司法部、FBI、国防部、U.S Visit Program等机构的支持与赞助,测试结果受到了世界的广泛关注。

NEC公司从1970年开始致力于指纹比对技术的研究开发,1982年在全世界率先将采用可实现高识别率的relation技术(特征点间隆线数)的比对方式付诸实用。在NIST主办的大规模指纹相关技术评比中,NEC公司在2003年的“指纹供应商技术评比(FpVTE2003)”,2004年“指纹摘出技术评比(SlapSeg04)”以及2007年“指纹供应商原有数据评比(PFT Study)”等多次评比中都取得了第一名的好成绩,技术实力广受好评。正因为如此,NEC公司的指纹比对系统不仅在日本被广泛使用,还被以美国加利福尼亚州为代表的全美24州,以及全世界30多个国家和地区的警察、司法机关、入境管理局等所采用。

 

图像来源:
http://biometrics.nist.gov/cs_links/fpvte/report/ir_7123_summary.pdf

 

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